知識專欄
熱分析測試樣品盤的選擇與校正指南
在進行熱分析測試時，樣品盤在選擇的時候不外乎考慮測試溫度、樣品盤材質、尺寸及配套設備，例如壓碇機的壓碇頭規格，在分析做高溫的檢測普遍都是金屬及陶瓷材料，但需要留意到同類型材質的部分產生會共融例如 金屬類的就不會用金屬盤、陶瓷類的就不會用陶瓷盤，這些也同步關係到樣品的適配性與設備的安全性。通常性質相同的材質，下面我們將介紹如何根據測試需求選擇合適的樣品盤，選購前應考慮的關鍵因素（包括樣品盤樣品盤壓錠機的配合）、應用範例，以及更換不同尺寸或樣品盤時重新校正的注意事項。
光學薄膜：從聚酯薄膜 Mylar 到耐高溫材料，哪種薄膜最適合你的應用？
選擇適合的光學薄膜對於X射線檢測至關重要。聚酯薄膜 Mylar、Prolene 和 Kapton 等薄膜具備耐高溫和優良的化學穩定性，適用於不同應用環境。Mylar薄膜特別適合X射線分析和機械保護，而Prolene則在高能量穿透測試中表現出色。選擇合適的薄膜材料需考慮光學性質、機械強度及成本，以確保最佳的檢測結果和儀器保護。如需協助選擇適合的檢測薄膜，歡迎聯繫我們！
選購標準品(參考物質)：CRM、RM、SRM、ERM的差別與正確選用方法
卓躍NCH提供查找各式檢測分析上需求標準品，參考物質（RM）和標準品在實驗室和工業中確保分析準確性。參考物質（Reference Material, RM）和標準品（Standard Material）在實驗室及工業中確保分析的準確性。RM具備均勻性與穩定性，適用於校正儀器及品質控制。認證參考物質（CRM）經過第三方認證，滿足高準確度需求。標準參考物質（SRM）由NIST提供，廣泛應用於科研。歐洲參考物質（ERM）則支持歐洲法規。若您對標準品應用有任何需求，歡迎與我們卓躍聯絡。
數位顯微鏡的優勢將如何改變您的觀測方式
數位顯微鏡結合了光學顯微鏡的高精度和數位技術的便利性，在各個領域都具有廣闊的應用前景。其優點包括影像呈現清晰、操作簡便、應用範圍廣泛、影像處理功能強大等。隨著科技的進步，數位顯微鏡的性能將不斷提升，為我們探索微觀世界提供更強大的工具。
鍍層膜厚標準片的重要性與重新認證的必要性
卓躍HCN提供膜厚標準品重新校驗服務，對於標準品的厚度數值等進行正確維護和校準厚度標準，讓所有XRF厚度測試儀器可獲得準確、可靠的結果。
積分球光度儀原理應用
積分球光度儀是一種廣泛用於測量光源光強度、顏色和光譜的光學儀器。該類儀器可以測量所有角度反射的光線，從而計算出與人眼所見非常接近的顏色測量值。
鍍層膜厚標準品校正是否會影響XRF膜厚分析儀測試準確度
一般膜厚儀Thickness gauge為例:兩個軟體模式分別是一個是FP膜厚法、一個是檢量線法，所需要使用到的金屬膜厚標準片標準品建置的種類及數目也不太相同，故測試上也會因此而影響到準確度。
XRF膜厚測試、環境有害元素分析、化合物檢測應用 (客製化) 標準品介紹
我們致力於提供世界上最齊全用於XRF檢測相關的認證標準品，包含薄膜和厚膜（單層和多層）、合金薄膜、包括合金和純元素在內的散裝標準、貴金屬標準、WEEE/RoHS 標準以及其他適用於廣泛領域的標準品更包含客戶需求客製化產品製作，不論是任何元素材質厚度或元素化合物合成需求。